Gate pulse electrical method to characterize hysteresis phenomena in organic field effect transistor - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Organic Electronics Année : 2008

Gate pulse electrical method to characterize hysteresis phenomena in organic field effect transistor

C. Petit
  • Fonction : Auteur
D. Zander
  • Fonction : Auteur
K. Lmimouni
M. Ternisien
D. Tondelier
  • Fonction : Auteur
S. Lenfant

Dates et versions

hal-00357293 , version 1 (30-01-2009)

Identifiants

Citer

C. Petit, D. Zander, K. Lmimouni, M. Ternisien, D. Tondelier, et al.. Gate pulse electrical method to characterize hysteresis phenomena in organic field effect transistor. Organic Electronics, 2008, 9, pp.979-984. ⟨10.1016/j.orgel.2008.07.013⟩. ⟨hal-00357293⟩
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