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Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Thermal characterization of nanostructured materials by Scanning Thermal Microscopy

Patrice Chantrenne
S. Lefevre
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00351468 , version 1 (09-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00351468 , version 1

Citer

S. Gomes, Patrice Chantrenne, S. Lefevre. Thermal characterization of nanostructured materials by Scanning Thermal Microscopy. The second international workshop on : Quantitative Micro and Nano Thermal Imaging and Analysis QMNTIA 2007, Jun 2007, Lyon, France. ⟨hal-00351468⟩
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