Quantitative Thermoreflectance Imaging : Calibration Method and Validation on a dedicated Integrated Circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies Année : 2007

Quantitative Thermoreflectance Imaging : Calibration Method and Validation on a dedicated Integrated Circuit

G. Tessier
S. Pavageau
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B. Charlot
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C. Filloy
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D. Fournier
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B. Cretin
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S. Dilhaire
S. Gomes
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S. Volz
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Soumis le : mercredi 7 janvier 2009-15:02:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

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Dates et versions

hal-00350680 , version 1 (07-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00350680 , version 1

Citer

G. Tessier, S. Pavageau, B. Charlot, C. Filloy, D. Fournier, et al.. Quantitative Thermoreflectance Imaging : Calibration Method and Validation on a dedicated Integrated Circuit. IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 2007, 30 (4), pp.604-608. ⟨hal-00350680⟩

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