TP de nanotechnologie : caractérisation et nanolithographie AFM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

TP de nanotechnologie : caractérisation et nanolithographie AFM

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Hervé Lhermite  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00343031

Soumis le : vendredi 28 novembre 2008-18:05:46

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00343031 , version 1 (28-11-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00343031 , version 1

Citer

Laurent Pichon, Fouad Demami, Hervé Lhermite, Régis Rogel. TP de nanotechnologie : caractérisation et nanolithographie AFM. Dixièmes Journées Pédagogiques du CNFM, Nov 2008, Saint-Malo, France. pp.241-245. ⟨hal-00343031⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UNIV-NANTES UNIV-RENNES1 CNRS INSA-RENNES IETR UR1-MATH-STIC UR1-UFR-ISTIC IETR-MM UNIV-RENNES INSA-GROUPE UR1-MATH-NUM NANTES-UNIVERSITE
173 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More