Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Pascal Brault : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00336107
Soumis le : vendredi 31 octobre 2008-23:57:05
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00336107 , version 1
Citer
Nadjib Semmar, Cong Wang, Pascal Brault. Effect of temperature calibration up to 500 °C on Fe/Si thin films thermal characterisation by pulsed photo-thermal method. EMR 20008 : Symposium B: Laser and plasma in micro- and nano-scale materials processing and diagnostics, Jun 2008, Strasbourg, France. B-P3 51 p. 69. ⟨hal-00336107⟩
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