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Communication Dans Un Congrès Année : 2006

MEMS Reliability Challenges in EURELNET

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00334753 , version 1 (27-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00334753 , version 1

Citer

Y. Ousten, Xavier Chapeleau. MEMS Reliability Challenges in EURELNET. NEXUS Methodology Working group - Reliability and Test in conjunction with CANEUS and MEMUNITY, Nov 2006, Milan, Italy. ⟨hal-00334753⟩
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