Characterization of stacking faults in thick 3C-SiC crystals using high resolution diffuse X-ray scattering - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Characterization of stacking faults in thick 3C-SiC crystals using high resolution diffuse X-ray scattering

D. Chaussende
Florian Mercier
G. Ferro
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00285929 , version 1 (06-06-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00285929 , version 1

Citer

Alexandre Boulle, D. Chaussende, Florine Conchon, Florian Mercier, G. Ferro, et al.. Characterization of stacking faults in thick 3C-SiC crystals using high resolution diffuse X-ray scattering. E-MRS 2007 Spring Meeting, Symposium G, Strasbourg, May 2008, Strasbourg, France. ⟨hal-00285929⟩
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