Article Dans Une Revue
European Physical Journal: Applied Physics
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00283062
Soumis le : jeudi 29 mai 2008-09:17:40
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
L. Kerkache, A. Layadi, El Hadj Dogheche, Denis Remiens. Annealing effect in DC and RF sputtered ITO thin films. European Physical Journal: Applied Physics, 2007, 39, pp.1-5. ⟨10.1051/epjap:2007113⟩. ⟨hal-00283062⟩
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