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Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Raman spectroscopy and AFM characterization on individual Si-based nanowires

M. Marczak
  • Fonction : Auteur
M. Zdrojek
  • Fonction : Auteur
W. Gebicki
  • Fonction : Auteur
C. Jastrzebski
  • Fonction : Auteur
Thierry Melin
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
D. Hourlier

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https://hal.science/hal-00243973

Soumis le : jeudi 7 février 2008-10:26:52

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00243973 , version 1 (07-02-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00243973 , version 1

Citer

M. Marczak, M. Zdrojek, W. Gebicki, C. Jastrzebski, Thierry Melin, et al.. Raman spectroscopy and AFM characterization on individual Si-based nanowires. European Material Research Society Spring Meeting, E-MRS - IUMRS - ICEM 06, Symposium E : Science and Technology of Nanotubes and Nanowires, 2006, Nice, France. ⟨hal-00243973⟩

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