Thin film disorientation measurement using the single crystal Nonius Kappa CCD diffractometer - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2006

Thin film disorientation measurement using the single crystal Nonius Kappa CCD diffractometer

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https://hal.science/hal-00204619

Soumis le : mardi 15 janvier 2008-11:00:32

Dernière modification le : mardi 12 mars 2024-15:09:53

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00204619 , version 1 (15-01-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00204619 , version 1

Citer

E. Aubert, E. Wenger, M. Link, B. Assouar, C. Didierjean, et al.. Thin film disorientation measurement using the single crystal Nonius Kappa CCD diffractometer. Journal of Applied Crystallography, 2006, 39, pp.919-921. ⟨hal-00204619⟩

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