Roughness of Stylolites: Implications of 3D High Resolution Topography Measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review Letters Année : 2004

Roughness of Stylolites: Implications of 3D High Resolution Topography Measurements

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Soumis le : jeudi 3 janvier 2008-13:47:03

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hal-00201774 , version 1 (03-01-2008)

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Citer

Jean Schmittbuhl, Francois Renard, Jean-Pierre Gratier, Renaud Toussaint. Roughness of Stylolites: Implications of 3D High Resolution Topography Measurements. Physical Review Letters, 2004, 93, pp.238501. ⟨10.1103/PhysRevLett.93.238501⟩. ⟨hal-00201774⟩

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