Effects of atmosphere on the reliability of RF-MEMS capacitive switches. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Effects of atmosphere on the reliability of RF-MEMS capacitive switches.

Pierre Blondy
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 915831
MINACOM
Aurelian Crunteanu
MINACOM
Arnaud Pothier
MINACOM
CV
Pascal Tristant
Axe 2 : procédés de traitements de surface
Alain Catherinot
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 915830
Axe 2 : procédés de traitements de surface
Corinne Champeaux
Axe 2 : procédés de traitements de surface
CV

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https://hal.science/hal-00199104

Soumis le : mardi 18 décembre 2007-14:47:39

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:14

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00199104 , version 1 (18-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00199104 , version 1

Citer

Pierre Blondy, Aurelian Crunteanu, Arnaud Pothier, Pascal Tristant, Alain Catherinot, et al.. Effects of atmosphere on the reliability of RF-MEMS capacitive switches.. European Microwave Week 2007, EuMC., Oct 2007, Munich, Germany. ⟨hal-00199104⟩

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