Low frequency noise in polysilicon thin film transistors : effect of the laser annealing of the active layer - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Low frequency noise in polysilicon thin film transistors : effect of the laser annealing of the active layer

Laurent Pichon
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
CV

Domaines

Electronique

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https://hal.science/hal-00198356

Soumis le : lundi 17 décembre 2007-10:47:18

Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00198356 , version 1 (17-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00198356 , version 1

Citer

Laurent Pichon. Low frequency noise in polysilicon thin film transistors : effect of the laser annealing of the active layer. LPSD Laser Processing for semiconductor Devices : Science and Technology, 2007, -, France. ⟨hal-00198356⟩

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