Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry - Archive ouverte HAL

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Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2006

Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry

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V. Rouessac

Fonction : Auteur
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Institut Européen des membranes

Romain Coustel

Fonction : Auteur
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Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour l'Environnement

Florence Bosc

Fonction : Auteur
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Institut Européen des membranes

J. Durand

Fonction : Auteur

Institut Européen des membranes

André Ayral

Fonction : Auteur
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Institut Européen des membranes

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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Florence Bosc Rouessac : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00186246

Soumis le : jeudi 8 novembre 2007-14:39:39

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

Dates et versions

hal-00186246 , version 1 (08-11-2007)

Identifiants

HAL Id : hal-00186246 , version 1
DOI : 10.1016/j.tsf.2005.08.334

Citer

V. Rouessac, Romain Coustel, Florence Bosc, J. Durand, André Ayral. Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry. Thin Solid Films, 2006, pp.232. ⟨10.1016/j.tsf.2005.08.334⟩. ⟨hal-00186246⟩

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