Soft-switching performances of 1200V new punch-through IGBT using local lifetimecontrol at high temperature - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2001

Soft-switching performances of 1200V new punch-through IGBT using local lifetimecontrol at high temperature

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185554 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185554 , version 1

Citer

Stéphane Azzopardi, H. Iwamoto, A. Kawamura. Soft-switching performances of 1200V new punch-through IGBT using local lifetimecontrol at high temperature. Proc. IEEE Power Electronics Specialists Conference, 2001, Canada. pp.1. ⟨hal-00185554⟩
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