A microcontroller failure analysis using a LASER beam latchup triggering technique

Type de document :
Communication dans un congrès
Proc. of the 6th European Symposium on Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. NC, pp.1, 1995
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:31
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Citation

Pascal Fouillat, Jean-Edmond Le Calve, Hervé Lapuyade, Yvan Maidon, Jean-Paul Dom. A microcontroller failure analysis using a LASER beam latchup triggering technique. Proc. of the 6th European Symposium on Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. NC, pp.1, 1995. 〈hal-00185420〉

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