Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing

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Quality and Reliability Engineering International, Wiley, 1994, 10, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:26
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Citation

Pascal Fouillat, Stéphane Gervais-Ducouret, Hervé Lapuyade, Jean-Paul Dom. Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing. Quality and Reliability Engineering International, Wiley, 1994, 10, pp.1. 〈hal-00185408〉

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