Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1999
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https://hal.science/hal-00185404
Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:25
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00185404 , version 1
Citer
Vincent Pouget, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Renaud Briand, Pascal Fouillat, et al.. Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis. Microelectronics Reliability, 1999, 39, pp.1. ⟨hal-00185404⟩
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