Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 1999, 39, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:25
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Citation

Vincent Pouget, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Renaud Briand, Pascal Fouillat, et al.. Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis. Microelectronics Reliability, Elsevier, 1999, 39, pp.1. 〈hal-00185404〉

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