Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 2000, 40, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:25
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Citation

Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Frédéric Darracq, et al.. Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2000, 40, pp.1. 〈hal-00185403〉

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