Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 2001, 41, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:24
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

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Citation

Dean Lewis, Vincent Pouget, Thomas Beauchene, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, et al.. Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2001, 41, pp.1. 〈hal-00185401〉

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