Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Nuclear Science
Année : 2001
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https://hal.science/hal-00185400
Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:23
Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00185400 , version 1
Citer
Dean Lewis, Vincent Pouget, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, Hervé Lapuyade, et al.. Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2001, 48, pp.1. ⟨hal-00185400⟩
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