Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation

Type de document :
Article dans une revue
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 48, pp.1
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185400
Contributeur : Ims Import <>
Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:23
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185400, version 1

Citation

Dean Lewis, Vincent Pouget, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, Hervé Lapuyade, et al.. Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation. IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2001, 48, pp.1. 〈hal-00185400〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

104