Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM

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IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49, pp.1
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Soumis le : mardi 6 novembre 2007 - 09:05:20
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Citation

Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, N. Buard, F. Mounsi, Bruno Foucher, et al.. Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM. IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 49, pp.1. 〈hal-00185397〉

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