Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations

Type de document :
Communication dans un congrès
Journées d'étude RADECS96, 1996, France
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Soumis le : mercredi 31 octobre 2007 - 08:49:23
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:08

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  • HAL Id : hal-00184312, version 1

Citation

Yann Deval, Renaud Briand, Xavier Montagner, Pascal Fouillat, Jean Tomas, et al.. Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations. Journées d'étude RADECS96, 1996, France. 〈hal-00184312〉

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