Skip to Main content Skip to Navigation
Conference papers

Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations

Complete list of metadatas

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184312
Contributor : Ims Import <>
Submitted on : Wednesday, October 31, 2007 - 8:49:23 AM
Last modification on : Wednesday, October 9, 2019 - 9:30:27 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00184312, version 1

Citation

Yann Deval, Renaud Briand, Xavier Montagner, Pascal Fouillat, Jean Tomas, et al.. Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations. Journées d'étude RADECS96, 1996, France. ⟨hal-00184312⟩

Share

Metrics

Record views

154