Moisture diffusion in Printed Circuit Boards : Measurements and Finite- Element- Simulations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2005

Moisture diffusion in Printed Circuit Boards : Measurements and Finite- Element- Simulations

Kirsten Weide-Zaage
  • Fonction : Auteur
Walter Horaud
  • Fonction : Auteur
Hélène Fremont
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183957

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:41:32

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183957 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183957 , version 1

Citer

Kirsten Weide-Zaage, Walter Horaud, Hélène Fremont. Moisture diffusion in Printed Circuit Boards : Measurements and Finite- Element- Simulations. Microelectronics Reliability, 2005, 45, pp.1. ⟨hal-00183957⟩

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