Local lifetime control IGBT structures: turn-off performances comparisonfor hard-soft-switching between 1200 V trench and new planar PT-IGBTs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2001

Local lifetime control IGBT structures: turn-off performances comparisonfor hard-soft-switching between 1200 V trench and new planar PT-IGBTs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183576

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-09:31:18

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183576 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183576 , version 1

Citer

Stéphane Azzopardi, Olivier Briat, Jean-Michel Vinassa, Eric Woirgard, Christian Zardini. Local lifetime control IGBT structures: turn-off performances comparisonfor hard-soft-switching between 1200 V trench and new planar PT-IGBTs. Microelectronics Reliability, 2001, 41, pp.1. ⟨hal-00183576⟩

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