Analysis of low frequency drain noise in AlGaN/GaN HEMTs on sapphire substrate - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183508 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183508 , version 1

Citer

Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Arnaud Curutchet, Andre Touboul, Michael Uren. Analysis of low frequency drain noise in AlGaN/GaN HEMTs on sapphire substrate. 17th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, 2003, Czech Republic. pp.1. ⟨hal-00183508⟩
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