Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2005
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https://hal.science/hal-00183490
Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:52:42
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183490 , version 1
Citer
Naoufel Ismail, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Andre Touboul, Jean-Luc Muraro, et al.. Safe operating area of GaAs MESFET and PHEMT for amplification in overdrive operating conditions. Microelectronics Reliability, 2005, 1, pp.1611-1616. ⟨hal-00183490⟩
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