Quality evaluation of AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMTs by LF excess noise analysis - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1994

Quality evaluation of AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMTs by LF excess noise analysis

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183489

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:47:44

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183489 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183489 , version 1

Citer

Nathalie Saysset, Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul, Yves Danto. Quality evaluation of AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMTs by LF excess noise analysis. ESREF'94, 1994, United Kingdom. pp.1. ⟨hal-00183489⟩

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