Test pattern generation for behavioral descriptions in VHDL - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1991

Test pattern generation for behavioral descriptions in VHDL

Norbert Giambiasi
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des Sciences de l'Information et des Systèmes
Jean-François Santucci
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841804
Sciences pour l'environnement
Anne-Lise Courbis
EERIE
CV
V. Pla
  • Fonction : Auteur
EERIE

Domaines

Modélisation et simulation Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Jean-François Santucci  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00183321

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-17:09:02

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183321 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183321 , version 1

Citer

Norbert Giambiasi, Jean-François Santucci, Anne-Lise Courbis, V. Pla. Test pattern generation for behavioral descriptions in VHDL. Euro-VHDL 91 Conference, 1991, Stockholm, Sweden. pp.228-235. ⟨hal-00183321⟩

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