Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00181972
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-17:28:08
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181972 , version 1
Citer
Sébastien Fregonese, Gregory Avenier, Cristell Maneux, A. Chantre, Thomas Zimmer. Thin film SOI HBT: A study of the effect of substrate bias on the electrical characteristics. Solid-State Electronics, 2006, 50 (11-12), pp.1673-1676. ⟨hal-00181972⟩
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