Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2002
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https://hal.science/hal-00181931
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:46:44
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181931 , version 1
Citer
Bernard Tregon, Yves Ousten, Yves Danto, Laurent Bechou, B. Parmentier. Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions. Microelectronics Reliability, 2002, 1, pp.1113-1120. ⟨hal-00181931⟩
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