Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 2003, 1, pp.1
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Soumis le : mercredi 24 octobre 2007 - 16:46:43
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Citation

Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Yves Danto, et al.. Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2003, 1, pp.1. 〈hal-00181929〉

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