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Communication Dans Un Congrès Année : 2005

First steps toward ageing simulation of complex analogue circuits with behaioural modelling

François Marc
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Yves Danto
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00181896

Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:33:20

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181896 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181896 , version 1

Citer

François Marc, Yves Danto. First steps toward ageing simulation of complex analogue circuits with behaioural modelling. International Reliability Workshop 2005 (IRW2005), 2005, United States. pp.1. ⟨hal-00181896⟩

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