Dynamic testing of A/D converters by means of the three-parameter sine-fit algorithm - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO) Année : 2007

Dynamic testing of A/D converters by means of the three-parameter sine-fit algorithm

Daniel Belega
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 843582
Department of Electronics and Telecommunications
Dominique Dallet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 926883
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Dominique Dallet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00180585

Soumis le : vendredi 19 octobre 2007-15:12:16

Dernière modification le : mardi 27 février 2024-10:26:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00180585 , version 1 (19-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180585 , version 1

Citer

Daniel Belega, Dominique Dallet. Dynamic testing of A/D converters by means of the three-parameter sine-fit algorithm. Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO), 2007, 40 (1), pp.1-7. ⟨hal-00180585⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IMS-BORDEAUX IMS-BORDEAUX-FUSION
44 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More