Introduction to special issue on ADC modelling and testing; 4th workshop on ADC modelling and testing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO) Année : 2002

Introduction to special issue on ADC modelling and testing; 4th workshop on ADC modelling and testing

Dominique Dallet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 926883
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Pasquale Daponte
  • Fonction : Auteur
University of Bennevento

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Dominique Dallet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00180550

Soumis le : vendredi 19 octobre 2007-14:50:39

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00180550 , version 1 (19-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180550 , version 1

Citer

Dominique Dallet, Pasquale Daponte. Introduction to special issue on ADC modelling and testing; 4th workshop on ADC modelling and testing. Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO), 2002, 31 (1), pp.1-2. ⟨hal-00180550⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IMS-BORDEAUX IMS-BORDEAUX-FUSION
45 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More