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Conference papers

Détection de défauts par analyse par intervalles

Gaétan Videau 1 Tarek Raïssi 1 Ali Zolghadri 1
1 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180506
Contributor : Tarek Raïssi <>
Submitted on : Friday, October 19, 2007 - 1:59:33 PM
Last modification on : Saturday, January 18, 2020 - 10:40:15 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00180506, version 1

Collections

CNRS | IMS-BORDEAUX | IMS-BORDEAUX-FUSION

Citation

Gaétan Videau, Tarek Raïssi, Ali Zolghadri. Détection de défauts par analyse par intervalles. Journées Identification et Modélisation Expérimentale, 2006, Poitiers, France. ⟨hal-00180506⟩

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