Methodology to evaluate the correspondence between real conditions and accelerated tests of a thyristor system used in a power plant - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Methodology to evaluate the correspondence between real conditions and accelerated tests of a thyristor system used in a power plant

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Alexandrine Guédon-Gracia  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00179906

Soumis le : mercredi 17 octobre 2007-09:46:17

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-00179906 , version 1 (17-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00179906 , version 1

Citer

Alexandrine Guédon-Gracia, Eric Woirgard, Christian Zardini, Guillaume Simon. Methodology to evaluate the correspondence between real conditions and accelerated tests of a thyristor system used in a power plant. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1853-1858. ⟨hal-00179906⟩

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