Procédé de mesure d'une épaisseur seuil de couche de matériau purement résistif, dispositif de mise en œuvre, et utilisation d'un tel dispositif dans un pot d'échappement - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Brevet Année : 2010

Procédé de mesure d'une épaisseur seuil de couche de matériau purement résistif, dispositif de mise en œuvre, et utilisation d'un tel dispositif dans un pot d'échappement

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle Dufour  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00163319

Soumis le : mardi 17 juillet 2007-11:32:01

Dernière modification le : mardi 6 juin 2023-13:30:30

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00163319 , version 1 (17-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00163319 , version 1

Citer

Francis Ménil, Claude Lucat, Pascal Tardy, Alexandrine Guédon, Patrick Ginet. Procédé de mesure d'une épaisseur seuil de couche de matériau purement résistif, dispositif de mise en œuvre, et utilisation d'un tel dispositif dans un pot d'échappement. France, N° de brevet: EP2167950 (A2). 2010. ⟨hal-00163319⟩

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