Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2005

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier

S. Huyghe
  • Fonction : Auteur
L. Bechou
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
N. Zerounian
  • Fonction : Auteur
Institut d'électronique fondamentale
Y. Deshayes
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
F. Aniel
  • Fonction : Auteur
A. Denolle
  • Fonction : Auteur
D. Laffitte
  • Fonction : Auteur
Jl. Goudard
  • Fonction : Auteur
Y. Danto
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Optique / photonique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00162343

Soumis le : vendredi 13 juillet 2007-11:24:54

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00162343 , version 1 (13-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00162343 , version 1

Citer

S. Huyghe, L. Bechou, N. Zerounian, Y. Deshayes, F. Aniel, et al.. Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier. Microelectronics Reliability, 2005, 45, pp. 1593-1599. ⟨hal-00162343⟩

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