Porosity of supported thin films and membranes studied by ellipsometric porosimetry - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Porosity of supported thin films and membranes studied by ellipsometric porosimetry

V. Rouessac
Institut Européen des membranes
CV

Résumé

unavailable

Domaines

Matériaux

Nathalie Bonneval  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00161226

Soumis le : mardi 10 juillet 2007-11:32:43

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00161226 , version 1 (10-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00161226 , version 1

Citer

V. Rouessac. Porosity of supported thin films and membranes studied by ellipsometric porosimetry. Workshop on Scattering and X-Ray spectroscopy Characterization Techniques for Membranes and Porous Materials, Jun 2006, Lillehammer, Norway. ⟨hal-00161226⟩

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