Theory of scanning tunneling microscopy of defects on semiconductors surfaces - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2000

Theory of scanning tunneling microscopy of defects on semiconductors surfaces

X. de La Broïse
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
C. Delerue
CV
M. Lannoo
  • Fonction : Auteur
B. Grandidier
CV
D. Stievenard

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https://hal.science/hal-00158951

Soumis le : lundi 2 juillet 2007-10:03:58

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00158951 , version 1 (02-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00158951 , version 1

Citer

X. de La Broïse, C. Delerue, M. Lannoo, B. Grandidier, D. Stievenard. Theory of scanning tunneling microscopy of defects on semiconductors surfaces. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2000, 61, pp.2138-2145. ⟨hal-00158951⟩

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