Microscopic characterization of defects using scanning tunneling microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Materials Science and Engineering: B Année : 2000

Microscopic characterization of defects using scanning tunneling microscopy

D. Stievenard
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00158667

Soumis le : vendredi 29 juin 2007-11:34:50

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00158667 , version 1 (29-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00158667 , version 1

Citer

D. Stievenard. Microscopic characterization of defects using scanning tunneling microscopy. Materials Science and Engineering: B, 2000, B71, pp.120-127. ⟨hal-00158667⟩

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