Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Materials Science and Engineering: C Année : 2006

Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy

M. Gassoumi
  • Fonction : Auteur
J.M. Bluet
F. Chekir
  • Fonction : Auteur
I. Dermoul
  • Fonction : Auteur
H. Maaref
  • Fonction : Auteur
G. Guillot
A. Minko
  • Fonction : Auteur
Virginie Hoel
Christophe Gaquière
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00154931

Soumis le : vendredi 15 juin 2007-08:58:29

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00154931 , version 1 (15-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00154931 , version 1

Citer

M. Gassoumi, J.M. Bluet, F. Chekir, I. Dermoul, H. Maaref, et al.. Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy. Materials Science and Engineering: C, 2006, 26, pp.SI : 383-386. ⟨hal-00154931⟩

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