Système de mesure NPR pour caractérisation non linéaire de transistors et circuits en bande Ka - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2001
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00152656 , version 1 (07-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00152656 , version 1

Citer

Pascal Delemotte, Frédéric Bue-Erkmen, Christophe Gaquière, Yves Crosnier. Système de mesure NPR pour caractérisation non linéaire de transistors et circuits en bande Ka. Actes des 12èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2001, May 2001, Poitiers, France. ⟨hal-00152656⟩
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