Static measurements of GaN MESFETs on (111) Si substrates

Virginie Hoel; Y. Guhel; B. Boudart; Christophe Gaquière; Jean-Claude de Jaeger; H. Lahreche; P. Gibart

Article Dans Une Revue Electronics Letters Année : 2001

Static measurements of GaN MESFETs on (111) Si substrates

(1) , , , , , ,

1

Virginie Hoel

Fonction : Auteur
PersonId : 747991
IdHAL : virginie-hoel
ORCID : 0000-0003-4652-4742
IdRef : 121234223

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Y. Guhel

Fonction : Auteur

B. Boudart

Fonction : Auteur
PersonId : 16148
IdHAL : bertrand-boudart
IdRef : 060260092

Christophe Gaquière

Fonction : Auteur
PersonId : 746853
IdHAL : christophe-gaquiere
ORCID : 0000-0003-3082-2489
IdRef : 059765615

Jean-Claude de Jaeger

Fonction : Auteur
PersonId : 747322
IdHAL : jean-claude-dejaeger

H. Lahreche

Fonction : Auteur

P. Gibart

Fonction : Auteur

Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00152620

Soumis le : jeudi 7 juin 2007-11:12:38

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Dates et versions

hal-00152620 , version 1 (07-06-2007)

Identifiants

HAL Id : hal-00152620 , version 1

Citer

Virginie Hoel, Y. Guhel, B. Boudart, Christophe Gaquière, Jean-Claude de Jaeger, et al.. Static measurements of GaN MESFETs on (111) Si substrates. Electronics Letters, 2001, 37, pp.1095-1096. ⟨hal-00152620⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE

52 Consultations

0 Téléchargements

Static measurements of GaN MESFETs on (111) Si substrates

Dates et versions

Identifiants

Citer

Exporter

Collections

Partager