Caractérisation diélectrique en réflexion transmission de cristaux liquides en structure ligne plaquée - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Caractérisation diélectrique en réflexion transmission de cristaux liquides en structure ligne plaquée

Abdellatif Akjouj
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Bahram Djafari-Rouhani
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Jerome O. Vasseur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Jean-François Legier
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Erick Paleczny
  • Fonction : Auteur
Mohamed Bouazaoui
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 849096
Laboratoire de Physique des Lasers, Atomes et Molécules - UMR 8523
Jean-Pierre Vilcot
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Arnaud Beaurain
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Stefan Mc Murtry
L. Dobrzynski
CV

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal.science/hal-00149649

Soumis le : lundi 28 mai 2007-10:22:48

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00149649 , version 1 (28-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00149649 , version 1

Citer

Abdellatif Akjouj, Bahram Djafari-Rouhani, Jerome O. Vasseur, Jean-François Legier, Erick Paleczny, et al.. Caractérisation diélectrique en réflexion transmission de cristaux liquides en structure ligne plaquée. Actes des 7èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2002, 2002, Toulouse, France. ⟨hal-00149649⟩

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