Communication Dans Un Congrès
Année : 2005
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00146484
Soumis le : mardi 15 mai 2007-09:31:45
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00146484 , version 1
Citer
A. Cros, S. Harrison, R. Cerutti, P. Coronel, Gérard Ghibaudo, et al.. New extraction method for gate bias dependent series resistance in nanometric double gate transistors.. International Conference on Microelectronic Test Structures - ICMTS, 2005, Louvain, Belgium. ⟨hal-00146484⟩
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