M-line spectroscopy for optical analysis of thick LiNbO3 layers grown on sapphire substrates by radio-frequency multistep sputtering - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2003

M-line spectroscopy for optical analysis of thick LiNbO3 layers grown on sapphire substrates by radio-frequency multistep sputtering

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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
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Citer

El Hadj Dogheche, X. Lansiaux, Denis Remiens. M-line spectroscopy for optical analysis of thick LiNbO3 layers grown on sapphire substrates by radio-frequency multistep sputtering. Journal of Applied Physics, 2003, 93 (2), pp.1165-1168. ⟨10.1063/1.1530367⟩. ⟨hal-00146473⟩

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