Total ionizing dose effects on deca-nanometer fully depleted SOI devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00146470 , version 1 (15-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00146470 , version 1

Citer

P. Paillet M. Gaillrdin V. Ferlet-Carvrois A. Torres O. Faynot C. Jahan, L. Tosti S. Cristoloveanu. Total ionizing dose effects on deca-nanometer fully depleted SOI devices. 2005, pp.XX. ⟨hal-00146470⟩

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