Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD)

L. Buchaillot
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00146437

Soumis le : mardi 15 mai 2007-09:04:19

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00146437 , version 1 (15-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00146437 , version 1

Citer

L. Buchaillot. Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD). Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1919-1928. ⟨hal-00146437⟩

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